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SP3020集成电路测试系统

浏览:857 日期:2016-07-24
SP3020集成电路测试系统

    天水天光半导体有限责任公司SP3020集成电路测试系统主要性能指标:

1最高测试速度:5MHz;

2最大管脚数:20PIN;

3测试程序开发语言用Windows98 环境下的visuaiC++6.0或菜单编程;

4提供功能测试、直流参数测试;

5图形发生器深度:32K;

6算法图形发生器地址长度:24位;

7定时精度:10ns;

8时钟周期信号定时范围:200ns~10ms;

9FTG前沿,宽度定时范围:20ns~10ms;

10选通脉冲CTG定时范围:20ns~10ms;

11① VIH、VIL:   范围:0V~15V;      精度:0.5%;

        VOH、VOL:   范围:0V~12V;     精度:0.5%;

② 程控电压源范围: -15V~+15V;     精度:0.5%;

③ 加压范围: -15V~+15V;           精度:0.5%;

④ 测流范围:-250mA~+250mA;        精度:0.5%;

⑤ 加流范围:-250mA~+250mA;        精度:0.5%;

⑥ 测压范围: -15V~+15V;           精度:0.5%。

 

 

 

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